方块电阻测试仪XX-2型
XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特点：
1 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
2 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3 采用单个电池供电，带电池欠压指示
4 体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5 可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6 带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7 单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。
◆ 技术指标：
测量范围 基本量程：方块电阻1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程：方块电阻10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度 ≤5%
探针规格 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
恒流源 测量过程误差：≤±0.8%
电源 9V叠层电池1节
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