BJ2931A 可控硅综合参数测试仪
可控硅综合参数测试仪测试仪用于测量晶闸管（可控硅整流无件）的通态、断态的触发电压、触发电流、维持电流、维持电压等参数。可控硅综合参数测试仪的图示装置可以显示被器件的伏安特性。
可控硅综合参数测试仪主要技术特性：
通压平稳电压TAV：0－2（V）；
通态峰值电压VTM：0－10（A）；
通态平均电流ITAV：0－5（A）；
通态峰值电流ITM：0－15（A）；
断态峰值电压VDRM、VDSM，反向峰值电压VDRM、VRSM：0－4000（V）；
断态重复平均电流IDRM，反向重复平均电流IRRM：0－100（mA）；
门级（控制级）触发电压VGT：0－10（V）；
门级（控制级）触发电流IGT：0－500（mA）；
可控硅综合参数测试仪测量误差：≤±5%；
可控硅综合参数测试仪外形尺寸：500×222×500（mm）；
可控硅综合参数测试仪重量：约30kg.
