ST-20 型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
特点：
1 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
2 低功耗
3 采用单个电池供电，带电池欠压指示
4 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm
5 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6 探头带抗静电模块
技术指标：
|
测量范围 |
基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口) |
|
测量不确定度 |
≤5% |
|
探针规格 |
探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
|
恒流源 |
测量过程误差：≤±0.8% |
|
电源 |
9V叠层电池1节 |
如需产品报价和技术支持请致电！
咨询电话： 021-53084217-111
24小时直线：18602120232
传真电话： 021-51685888
联系邮件： my1718.com@163.com
公司名称：上海麦聚瑞电子仪器有限公司
公司地址：上海市北京东路668号科技京城C-418
