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方塊電阻的定義及如何測試

方塊電阻的定義及如何測試


蒸發鋁膜、導電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導電材料,衡量它們厚度的*好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊“之”間的電阻,如圖一所示,即B邊到C邊的電阻值。方塊電阻有一個特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的,不管邊長是1還是0.1,它們的方阻都是一樣,這樣方阻僅與導電膜的厚度等因素有關。


方塊電阻如何測試呢,可不可以用萬用表電阻檔直接測試圖一所示的材料呢?不可以的,因萬用表的表筆只能測試點到點之間的電阻,而這個點到點之間的電阻不表示任何意義。如要測試方阻,首先我們需要在A邊和B邊各壓上一個電阻比導電膜電阻小得多的圓銅棒,而且這個圓銅棒光潔度要高,以便和導電膜接觸良好。

探頭由四根探針阻成,要求四根探針頭部的距離相等。四根探針由四根引聯接到方阻測試儀上,當探頭壓在導電薄膜材料上面時,方阻計就能立即顯示出材料的方阻值,具體原理是外端的兩根探針產生電流場,內端上兩根探針測試電流場在這兩個探點上形成的電勢。因為方阻越大,產生的電勢也越大,因此就可以測出材料的方阻值。需要提出的是雖然都是四端測試,但原理上與圖二所示用銅棒測方阻的方法不同。因電流場中僅少部分電流在BC點上產生電壓(電勢)。所示靈敏度要低得多,比值為14.53

 

影響探頭法測試方阻精度的因素:

 

1)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距,一般要求10倍以上。

 

2)要求探針頭之間的距離相等,否則就要產生等比例測試誤差。

 

3)理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時,因針狀電極容易破壞被測試的導       電薄膜材料,所以一般采用圓形探針頭。

 

*后談談實際應用中存在的問題

1、如果被測導電薄膜材料表面上不干凈,存在油污或材料暴露在空氣中時間過長,形成氧化層,會影    響測試穩定性和測試精度。在測試中需要引起注意。

 

2、如探頭的探針存在油污等也會引起測試不穩,此時可以把探頭在干凈的白紙上滑動幾下擦一擦可以    了。

 

3、如果材料是蒸發鋁膜等,蒸發的厚度又太薄的話,形成的鋁膜不能均勻的連成一片,而是形成點狀    分布,此時方塊電阻值會大大增加,與通過稱重法計算的厚度和方阻值不一樣,因此,此時就要考   慮到加入修正系數。

 

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文章標題:方塊電阻的定義及如何測試
 

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