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专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表

专门针对高功率半导体测试优化设计的数字源表


日前,为了应对业界对高功率电子产品的特性分析需求,吉时利(Keithley)公司推出了2600A系列源表中的*新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter)仪器。

该源表在单个全尺寸机箱中组合了多种仪器的功能:包括半导体特性分析仪、精密电源、真电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载,以及触发控制器,并且通过吉时利的TSP-Link技术可完全扩展为多通道严格同步系统。值得关注的是,2651A可源出或吸入高达2,000W脉冲功率(±40V@±50A)200W直流功率(±10V@±20A±20V@±10A±40V@±5A)。该数字源表还能够以高达1微秒每读数的速率精密测量低达1pA100μV的信号。

 

 

为了便于对瞬态和稳态行为进行精密特性分析,2651A可选择采用数字化或积分测量模式。Keithley公司市场总监Mark Cejer分析认为,和其它必须通过对多个读数进行平均来产生一次测量结果的方案不同,2651A数字化测量模式下的18A/D转换器能够以1微秒每点进行连续采样,每秒可捕获多达100万个读数,使其成为波形捕获及高精度测量瞬态特征的*佳选择;而积分测量模式则基于另一个22A/D转换器,优化了仪器在需要*高可能测量准确度和分辨率应用中的工作性能,从而确保了精密测量新一代器件中的极小电流和电压。

鉴于在各种大电流、大功率测试应用中量程动态范围的重要性,Keithley通过TSP-Link可将两个2651A单元采用并联或串联的方式进行连接。并联时,系统的电流量程可从50A提高至100A;串联时,电压量程可从40V提高至80V。同时,全部2600A系列仪器中的嵌入式测试脚本处理器(TSP)使用户能够将多个单元作为单台仪器进行寻址,使其一致动作,从而简化测试。数据显示,2651A的内置触发控制器能够以500纳秒同步所有链接通道的工作。

自热是大功率半导体和材料在测试期间的普遍问题。2651A针对此提供了高速脉冲功能,使用户能够以高准确度源出和测量脉冲。脉宽从100μsDC、占空比从1%100%可编程。

2651A中还嵌入了Keithley基于LXII-V测试软件TSP Express,所以无需软件安装和编程。从基本到**测试,TSP Express均能以简单三步提供器件数据:连接、配置和采集。

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