XX-2型方块电阻测试仪
XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
特点：
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1 |
采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定 |
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2 |
以大屏幕LCD显示读数，直观清晰 |
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3 |
采用单个电池供电，带电池欠压指示 |
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4 |
体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g |
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5 |
可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易 |
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6 |
带探头与被测物质接触良好指示(LED) |
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7 |
单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。 |
技术指标：
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测量范围 |
基本量程：方块电阻1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程：方块电阻10.0-1999.9(Ω/口) |
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测量不确定度 |
≤5% |
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探针规格 |
探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
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恒流源 |
测量过程误差：≤±0.8% |
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电源 |
9V叠层电池1节 |
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