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LED 全光通量自動測試系統

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產品名稱:
LED 全光通量自動測試系統
產品型號: 58173 說明/參數
產品廠商: 其它品牌
產品文檔: 無相關文檔

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簡單介紹

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光通量自動測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式。

LED 全光通量自動測試系統的詳細介紹

 功能特色:
  • 提供全方位電性測試 (200V/2A) ,可滿足HVHP測試
  • Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128)
  • 半自動精密LED wafer/chip點測設備
  • 特制Edge Sensor具有點測針壓穩定,無疲乏與針壓變動問題
  • 機械視覺定位系統,縮短人工操作時間
  • 自動抽測功能
  • 彈性調整的軟體操作界面
  • 快速芯片掃描系統
  • 自動破片掃描演算法
  • 遮光罩設計,杜絕背景光干擾
  • 即時顯示點測資料分布圖
  • 完善的量產測試統計報表及分析工具

 

 

技術規格:

  • 半自動 LED wafer/chip 點測設備
  • 漏電流測試模組
  • 電源量測單元
  • 光學測試模組
  • ESD 測試模組 (選配)

 

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光通量自動測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式。然而,傳統的方式存在 一些缺點,例如:準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等,以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。

 

Chroma研發出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測方式。 這種**的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測**度。

 

在光學量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得**且穩定 快速之數據;在機構方面,58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個完整 的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173 LED 全光通量自動測試系統則具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測試需求。

 

 

選購附件:

Model

Description

58173

LED 全光通量自動測試系統

 

 

主要銷售:LCR測試儀,,信號發生器,數字存儲示波器,絕緣電阻測試儀扭力扳手扭矩扳手耐壓測試儀直流電阻測試儀數字電橋等等測量儀器,測試儀器,工具等。(點擊關鍵詞可進入相關產品目錄)扭力測試儀瓶蓋扭力測試儀數字電橋,扭力扳手

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