·測試種類:常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可編程器件等·被測芯片腳數:40腳以下·測試速度:500KHz/Pin·*大輸出電流:每引腳100mA·測試方法:小規模集成電路(SST)、中規模集成電路(MSI),與標準庫比較大規模集成電路(LSI),與自學習庫比較·提供自建測試的編程語言·提供專用電路板元件測試庫(由使用者提出)·顯示方式:圖形顯示(時序波形)、狀態顯示·V-I特征曲線測試
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