XX-2型方塊電阻測試儀
XX-2型方塊電阻測試儀是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。
特點：
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1 |
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定 |
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2 |
以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰 |
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3 |
采用單個電池供電，帶電池欠壓指示 |
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4 |
體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g |
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5 |
可配臺式探頭和特制之手握式探頭，對應可采用臺式和手握式操作，使用簡易 |
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6 |
帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED) |
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7 |
單電源開關，推拉式探頭－主機接插件，操作極其簡便。 |
技術指標：
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測量范圍 |
基本量程：方塊電阻1.00-199.99(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻10.0-1999.9(Ω/口) |
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測量不確定度 |
≤5% |
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探針規格 |
探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
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恒流源 |
測量過程誤差：≤±0.8% |
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電源 |
9V疊層電池1節 |
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