BJ2931A 可控硅綜合參數測試儀
可控硅綜合參數測試儀測試儀用于測量晶閘管（可控硅整流無件）的通態、斷態的觸發電壓、觸發電流、維持電流、維持電壓等參數。可控硅綜合參數測試儀的圖示裝置可以顯示被器件的伏安特性。
可控硅綜合參數測試儀主要技術特性：
通壓平穩電壓TAV：0－2（V）；
通態峰值電壓VTM：0－10（A）；
通態平均電流ITAV：0－5（A）；
通態峰值電流ITM：0－15（A）；
斷態峰值電壓VDRM、VDSM，反向峰值電壓VDRM、VRSM：0－4000（V）；
斷態重復平均電流IDRM，反向重復平均電流IRRM：0－100（mA）；
門級（控制級）觸發電壓VGT：0－10（V）；
門級（控制級）觸發電流IGT：0－500（mA）；
可控硅綜合參數測試儀測量誤差：≤±5%；
可控硅綜合參數測試儀外形尺寸：500×222×500（mm）；
可控硅綜合參數測試儀重量：約30kg.
