SP-601型方型四探針探頭
SP-601型方型四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
特性及規格：
1 特制之手握式探筆
2 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞
4 探頭使用壽命長
5 探針間距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
SP-601型方形四探針探頭規格：
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型號
(Model) |
曲率半徑
(Radius) |
壓力
(loads) |
探針間距
(spacing) |
探針排列
(Arrangement) |
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SP-601 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
方形 |
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