功能特色：
- 提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试
- Chroma大面积光侦测器(量测角度可达128度)
- 半自动精密LED wafer/chip点测设备
- 特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题
- 机械视觉定位系统，缩短人工操作时间
- 自动抽测功能
- 弹性调整的软体操作界面
- 快速芯片扫描系统
- 自动破片扫描演算法
- 遮光罩设计，杜绝背景光干扰
- 即时显示点测资料分布图
- 完善的量产测试统计报表及分析工具
技术规格：
- 半自动 LED wafer/chip 点测设备
- 漏电流测试模组
- 电源量测单元
- 光学测试模组
- ESD 测试模组 (选配)
Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光通量自动测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中，常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式。然而，传统的方式存在 一些缺点，例如：准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等，以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。
Chroma研发出一种全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量测方式。 这种**的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明显的改善提升了量测**度。
在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得**且稳定 快速之数据；在机构方面，58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座，提供使用者一个完整 的校正与测试平台；在电性测试方面，58173 LED 全光通量自动测试系统则具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。
选购附件：
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Model
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Description
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58173
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LED 全光通量自动测试系统
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主要销售：LCR测试仪,,信号发生器,数字存储示波器,绝缘电阻测试仪扭力扳手扭矩扳手耐压测试仪直流电阻测试仪数字电桥等等测量仪器，测试仪器，工具等。（点击关键词可进入相关产品目录）扭力测试仪瓶盖扭力测试仪数字电桥,扭力扳手
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