·测试种类:可测试TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件·被测芯片脚数:100脚·测试速度:500KHz/Pin·中文Windows操作平台·开放式自建芯片和数据库·V-I特征曲线测试·配台式电脑(YB3117)·配笔记本电脑(YB3118)
沪公网安备 31010102004802号