TH2828 同惠总代理
广泛的测量对象
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和
性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
多种元器件、材料特性分析能力
揭示电感器件的多种特性
TH2828系列**的性能和20Hz—1MHz的测试频宽可以**地分析磁性材料、电感器件的性能。使用
TH10301选件的100mA DC的偏置电流可以**测量高频电感器件、通讯变压器、滤波器的小电流叠加性能
。使用TH1775电流叠加装置，可使偏置电流达40A以**分析高功率、大电流电感器件。
**的陶瓷电容器测量
■ 1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损
耗随施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度和六位分辨率，自动
电平控制（ALC）功能等足以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
液晶单元的电容特性测量
■ 电压-电容(C-VAC)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C-VAC特性遇到的一
个问题是*大测试电压不够。使用TH10301选件可提供分辨率为1%及*高达20Vrms的可编程测试信号电平，
使它能在*佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。
半导体材料和元件的测量
■ 进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C-VDC特性
的测量结果推倒出来。20Hz—1MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压可方便地完成C-VDC特性的
测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的
误差降至*小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。
适应多种领域的测试需要：
新材料、新元件的研究开发
■ TH2828/A/S具有的0.05%/0.1%基本准确度极大提高了测量的可信度。仪器提供的六位分辨率可以检测
元件参数的细微变化，尤其对低损耗元器件的测试具有良好的性能。提高生产效率
■ TH2828/A/S 30ms的测试速度可满足大多数生产场合高效测试的需要，从而提高生产厂的产能。内建比
较器、电缆长度补偿、Handler接口可方便地用于自动测试系统。内建存储器及USB外存装置可大大减小操
作时间并降低操作错误。应用广泛的品质检验手段
■ 仪器具备的20Hz—1MHz的频宽及5mVrms—20Vrms的信号电平范围可满足绝大多数元件的检测需要。
TH10301及TH1775的配置解决了直流偏置测量的要求。能满足元器件径向、轴向、SMD等多种形状的测试夹
具配置。友好的用户操作界面简化的前面板操作
■ 仪器配置的320×240点阵LCD显示器使操作者可清晰地观察测量结果，各种设定状态一目了然，交互
式软键大大简化了仪器操作。
非易失性存储器以保存多种仪器设置
■ TH2828系列提供有内部非易失性存储器可保存20组仪器测量设置，TH2828/S还具有外部USB存储卡进
行数据保存及多台仪器统一进行数据设置/调用。这将大大减少参数的设置错误并提高用户的使用效率。灵
活的数据通讯方式
■ TH2828系列提供有GPIB并行通讯（TH2828A为选件）接口，为多机通讯并组成自动测试系统提供了可能，
同时，仪器还提供了低成本的RS232C串行通讯方式以方便地与计算机进行远程通讯。
强大的器件分析能力
TH2828S具备对器件进行多种特性的图形分析能力。如对压电器件的谐振特性分析，磁性元件的偏流特
性分析，变容二极管的偏压特性分析，液晶材料的交流电压特性分析。同时可以为用户提供专用的分析软件
以获得元件更多所关心的特性，并提高测试效率。上图为TH2828S通过GPIB或RS232C对压电器件测试获得
的电导/相位—频率
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