BJ2931A 可控硅综合参数测试仪
可控硅综合参数测试仪测试仪用于测量晶闸管(可控硅整流无件)的通态、断态的触发电压、触发电流、维持电流、维持电压等参数。可控硅综合参数测试仪的图示装置可以显示被器件的伏安特性。
可控硅综合参数测试仪主要技术特性:
通压平稳电压TAV:0-2(V);
通态峰值电压VTM:0-10(A);
通态平均电流ITAV:0-5(A);
通态峰值电流ITM:0-15(A);
断态峰值电压VDRM、VDSM,反向峰值电压VDRM、VRSM:0-4000(V);
断态重复平均电流IDRM,反向重复平均电流IRRM:0-100(mA);
门级(控制级)触发电压VGT:0-10(V);
门级(控制级)触发电流IGT:0-500(mA);
可控硅综合参数测试仪测量误差:≤±5%;
可控硅综合参数测试仪外形尺寸:500×222×500(mm);
可控硅综合参数测试仪重量:约30kg.