HP系列四探针探头
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
特性及规格：
1 特制之手握式探笔
2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4 探头使用寿命长
5 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
可选配HP系列四探针探头的型号及规格：
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型号
(Model) |
曲率半径
(Radius) |
压力
(loads) |
探针间距
(spacing) |
探针排列
(Arrangement) |
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HP-501 |
0.5mm |
100g |
3.8mm |
直线 |
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HP-502 |
0.75mm |
100g |
3.8mm |
直线 |
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HP-503 |
0.1mm |
150g |
1mm |
直线 |
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HP-504 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
直线 |
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